Модераторы: Kagor
  

Поиск:

Ответ в темуСоздание новой темы Создание опроса
> Технология Z-RAM прошла проверку на практике 
:(
    Опции темы
Albinos_x
Дата 23.1.2006, 23:58 (ссылка) | (нет голосов) Загрузка ... Загрузка ... Быстрая цитата Цитата


Evil Skynet
****


Профиль
Группа: Комодератор
Сообщений: 3288
Регистрация: 28.5.2004
Где: X-6120400 Y-1 4624650

Репутация: нет
Всего: 108



Компания Innovative Silicon (ISi), разработавшая память Z-RAM, сообщила, что новинка успешно прошла проверку "в кремнии". Для изготовления пробных изделий был использован 90-нм процесс "кремний на изоляторе" (silicon-on-insulator, SOI) на двух производственных базах. Разработчик планирует вскоре продемонстрировать элемент памяти Z-RAM (для которого используется всего один транзистор и ни одного конденсатора), выполненный по нормам 65-нм.

По мнению руководителя компании, Марка-Эрика Джонса (Mark-Eric Jones), наступила "точка перегиба кривой", когда проверка разработки на практике выводит ее на новый уровень. Вкупе с соглашением, заключенным недавно между ISi и AMD, она "показывает ее значение для ведущих производителей полупроводников".

Напомним, основное преимущество новой памяти - повышенная плотность. Предполагается, что она позволит в несколько раз увеличить объем кэш-памяти процессоров, уменьшить площадь кристалла, увеличив, таким образом, выход продукции из одной пластины и снизив стоимость конечных изделий. Для AMD, с ее грандиозными планами по выпуску микропроцессоров, освоение новинки было бы очень полезно.

Примечательно, что показатель количества сбойных элементов в новой памяти оказался на порядок лучше, чем у широко используемой сейчас встраиваемой памяти SRAM и сопоставим с лучшими показателями встраиваемой памяти DRAM. Речь идет о так называемых "мягких сбоях" (soft error). Дело в том, что полупроводниковая память подвержена ошибкам, вызываемым радиацией. На земной поверхности доминирующими источниками радиации являются космические лучи и альфа-излучение от радиоизотопных примесей в корпусах микросхем и других материалах. Когда происходит ошибка, ячейка памяти принимает противоположное значение: "1" вместо "0" и наоборот. "Мягкая ошибка" не свидетельствует о повреждении памяти. Она может быть исправлена, как только в ячейку будет записано правильное значение. Процент таких ошибок обозначают SER (Soft Error Rate). Если значение SER достаточно высоко, ошибки могут повлиять на надежность системы.

Innovative Silicon


--------------------
"Кто владеет информацией, тот владеет миром"    
Уинстон Черчилль
PM MAIL ICQ   Вверх
  
Ответ в темуСоздание новой темы Создание опроса
0 Пользователей читают эту тему (0 Гостей и 0 Скрытых Пользователей)
0 Пользователей:
« Предыдущая тема | Общие вопросы по железу | Следующая тема »


 




[ Время генерации скрипта: 0.0416 ]   [ Использовано запросов: 23 ]   [ GZIP включён ]


Реклама на сайте     Информационное спонсорство

 
По вопросам размещения рекламы пишите на vladimir(sobaka)vingrad.ru
Отказ от ответственности     Powered by Invision Power Board(R) 1.3 © 2003  IPS, Inc.